メモリ（フラッシュメモリ）の
電気的特性確認サービス

メモリ専門のエキスパートが不良現象を再現し特性確認をサポート＞お客様の用途に合わせた適切な試験をご提案＞複数社のROMを同時に比較試験が可能＞専用試験機による解析＞解析事例・ループ解析で間欠不良現象を確実に捉え・お客様使用条件でエージングを行い、間欠的に発生する不良アドレス/ビットを抽出・高温環境下での長期寿命試験（繰返し書込み限界試験) ・データ保持特性の確認（経時的なデータ化けの予兆を確認）

◆ お預かりしたサンプルから解析方法をご提案、データ・結果をご報告いたします。 ◆ フラッシュメモリに限らずHDD、SSDの解析・評価サービスにも対応を致します。

特長

長年培ってきたノウハウをもとに、お客様が使用されますフラッシュメモリでお困りの事（例：書けない、読めない）に対して電気的特性の確認支援をさせて頂きます。フラッシュメモリの使い方によっては期待した信頼性や寿命が満たせなくなってしまう場合があります。（アクセス頻度/偏り/種類、通電時間、周囲環境等によるデータ化けや短寿命）当社では様々な用途に合わせたフラッシュメモリの故障解析を行ってきた知見・実績を活かした特性確認のご提案を致します。

こんなお困りごとがある際にはFQLへご相談下さい！　　✓ システムでFlashメモリのトラブルが発生しているが原因が分からない　　✓ メーカー調査で不良が未再現となったり、詳細な不良情報を提示できず、原因が解明できない　　✓ Flashメモリを採用に関し、期待する書込み寿命を確認したい　　✓ 特殊試験（X線照射影響、書込み回数の推定、温度依存性確認など）を実施したい。

サービスに関する詳細およびお問い合わせ
サービスに関するお詳細情報は、下記のページをご参照ください。

	詳細情報はこちら

また、製品に関するお問い合わせは、下記フォームからお願いいたします。